Kontrola optyczna próbki OPTOLab 55 II generacji służy do sprawdzania wymiarów próbek przeznaczonych do badań udarności podczas kontroli wejściowej i wyjściowej, w pomieszczeniach badawczych i laboratoriach. Oprogramowanie jest przystosowane do pracy w systemach jakości ISO 9001:2016.

Pobierz prospekt:

Skontaktuj się z nami:

Drodzy Klienci, informujemy iż specyfikacja techniczna każdego oferowanego przez nas urządzenia, oprogramowania czy akcesorium może ulec zmianie, ponieważ nasze produkty są dopasowywane do indywidualnych potrzeb każdego Klienta, zgodnie z naszą ideą – od pomysłu do realizacji. Z tego powodu karty katalogowe dostępne na naszej stronie internetowej mają charakter informacyjny i nie mogą stanowić podstawy do oceny technicznej w ramach prowadzonych zapytań ofertowych oraz przetargów. Z uwagi na szerokie spektrum oferowanych produktów, dane techniczne zamieszczone w kartach katalogowych stanowią jedynie część parametrów danego produktu i nie są na bieżąco aktualizowane. Jedynie dokumentacja przesłana bezpośrednio do Klienta z naszych oficjalnych adresów e-mail bądź w wersji papierowej na adres siedziby firmy może stanowić podstawę do weryfikacji zgodności przedstawionej oferty z wymaganiami Klienta.